Idea karty kontrolnej

Omówienie sposobów postępowania związanych z praktycznym stosowaniem wszystkich wyżej wymienionych kart kontrolnych nadmiernie rozbudowałoby objętość niniejszego opracowania. Dlatego w dalszym ciągu będą poczynione pewne uwagi dotyczące tylko karty kontrolnej x. Trzeba zauważyć, że szczegółowe informacje dotyczące ww. kart kontrolnych Shewarta można znaleźć w normach, np. PN-ISO 3534-2: 1994 „Statystyczne sterowanie jakością. Statystyka. Terminologia”, PN-ISO-8258 + AC1: 1996 „Karty kontrolne Shewarta”, a także w literaturze opisującej praktyczne stosowanie tych kart.

Ideę karty kontrolnej x, dotyczącej położenia wartości średniej cechy wyrobu, wyznaczanej na podstawie wyników pomiarów w małych próbach egzemplarzy pobieranych okresowo (co założony czas), można przedstawić następująco:

Na kartę kontrolną x nanoszone są wartości średnie wyników pomiarów cechy X w kolejnych próbkach wyrobu. Analiza średnich polega na testowaniu zgodności wartości średnich w próbkach z wymaganą wartością średnią Xc (na przyjętym poziomie istotności). Wartość Xc może być przyjęta na podstawie danych konstrukcyjnych (może to być docelowa wartość średnia cechy X wyrobu) lub oszacowana na podstawie wyników pomiarów wartości cechy X w tzw. próbie pilotowej, której liczebność powinna być duża (100 lub więcej egzemplarzy), pobranej spośród wyrobów wytworzonych w naturalnych warunkach realizacji procesu wytwórczego. Sposób postępowania przy stosowaniu karty kontrolnej x można graficznie przedstawić tak, jak na rys. 8.12.

Leave a reply

You may use these HTML tags and attributes: <a href="" title=""> <abbr title=""> <acronym title=""> <b> <blockquote cite=""> <cite> <code> <del datetime=""> <em> <i> <q cite=""> <s> <strike> <strong>