Karty kontrolne dla cech alternatywnych

Stosowane są także karty kontrolne, na które nanosi się różnice wartości średnich mierzonej cechy i rozstępu w kolejnych próbkach, zwane kartami kontrolnymi x-R.

Jak już wspomniano, w praktyce stosuje się jeszcze wiele innych rodzajów kart kontrolnych, które są wykorzystywane w procedurach statystycznej kontroli procesów (SPC – Statistical Process Control). W odniesieniu do konkretnego procesu wytwórczego oraz rozpatrywanej cechy wyrobu trzeba każdorazowo przeprowadzić analizę przydatności poszczególnych rodzajów kart kontrolnych i dobrać taką kartę, która umożliwi najskuteczniejsze wnioskowanie o możliwości rozregulowania się procesu. Przy produkcji masowej lub wielkoseryjnej wyrobów policzalnych i badaniu cechy mierzalnej najbardziej przydatna może być karta kontrolna jc. W ciągłych procesach wytwórczych celowe może być stosowanie kart kontrolnych ze średnią ruchomą (średnią ślizgającą się), przy wytwarzaniu pojedynczych egzemplarzy można stosować kartę wartości pojedynczych itp.

Innym rodzajem kart kontrolnych są karty dla cech alternatywnych. Opracowano kilka rodzajów takich kart przy różniących się założeniach dotyczących sposobu przeprowadzania badań.

Karta „np”. Przy jej stosowaniu wyznacza się udział egzemplarzy niezgodnych z wymaganiami, p, w próbce o liczebności n. Dla takiej karty położenie linii centralnej wyznacza się za pomocą wzoru l=k

Leave a reply

You may use these HTML tags and attributes: <a href="" title=""> <abbr title=""> <acronym title=""> <b> <blockquote cite=""> <cite> <code> <del datetime=""> <em> <i> <q cite=""> <s> <strike> <strong>