Termin „sześć sigm” – dalszy opis

Procentowe wartości podane na rys. 8.8 odpowiadają udziałom powierzchni pól pod krzywą gęstości prawdopodobieństwa zmiennej losowej X, zawartych w kolejnych (licząc od wartości oczekiwanej) zakresach wartości ±ls, ±2s, ±6s, w całej powierzchni pola pod krzywą gęstości f(x).

Ponieważ już dla ±3s udział ten przekracza 99,7%, więc zaczęto wprowadzać inną miarę poziomu błędów, oznaczaną ppm {parts per milliori), co odpowiada liczbie wadliwych egzemplarzy w 1 milionie wytworzonych wyrobów. Przy takim wskaźniku 1% wadliwości odpowiada 10 000 wadliwych egzemplarzy w każdym milionie wyrobów. Zwiększa to czułość tej metody badania jakości procesów wytwórczych oraz możliwości ich ulepszania. Jeżeli chcemy wykryć jeden wadliwy egzemplarz przy wyrażanej w procentach wadliwości, która np. wynosi 1%, to należałoby pobierać do pomiarów cechy X z wytworzonej partii wyrobów próby o liczebności co najmniej 100 sztuk. Przy wadliwości 0,3%, czemu odpowiada wartość ppm wynosząca 3000 wadliwych egzemplarzy w 1 milionie wytworzonych, liczebność prób powinna wynosić co najmniej 333 sztuk, natomiast przy wadliwości 0,1%, tzn. przy ppm = 1000 wadliwych w 1 milionie wytworzonych wyrobów, liczebność prób powinna wynosić co najmniej 1000 sztuk.

Jeżeli przyjmie się założenie, że dopiero odchylenie wartości cechy od wartości średniej o 6o stanowi o błędzie w procesie wytwórczym, to w milio-

Leave a reply

You may use these HTML tags and attributes: <a href="" title=""> <abbr title=""> <acronym title=""> <b> <blockquote cite=""> <cite> <code> <del datetime=""> <em> <i> <q cite=""> <s> <strike> <strong>